<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>Bakar on Infrared Quartz Heat Solutions</title>
		<link>http://infra-quartz-heat.com/ms/tags/bakar/</link>
		<description>Recent content in Bakar on Infrared Quartz Heat Solutions</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>ms</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Thu, 25 Jun 2026 05:15:02 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://infra-quartz-heat.com/ms/tags/bakar/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>Pemanas untuk proses Post Exposure Bake (PEB)</title>
				<link>http://infra-quartz-heat.com/ms/posts/post-exposure-bake-peb-heater/</link>
				<pubDate>Thu, 25 Jun 2026 05:15:02 +0800</pubDate>
				<guid>http://infra-quartz-heat.com/ms/posts/post-exposure-bake-peb-heater/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://infra-quartz-heat.com/images/0a976f8a438e1a813cc995e9355a4471.png&#34; alt=&#34;Pemanas untuk proses Post Exposure Bake (PEB)&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;Di ruang litografi, ralat suhu PEB boleh menyebabkan perubahan ketara pada ukuran CD dan kesilapan dalam proses penghasilan cip. Perbezaan suhu sebanyak 1°C pada permukaan wafer sudah cukup untuk mengganggu profil fotoreseptor, sehingga membuang masa berjam-jam yang telah digunakan untuk proses pengeluaran. Kami telah mencipta pemanas PEB yang mampu mengekalkan profil suhu dalam julat yang ditetapkan, dari satu kumpulan wafer ke kumpulan wafer yang lain.&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;&lt;strong&gt;Apa yang penting dalam proses ini&lt;/strong&gt;&lt;br&gt;&#xA;Kami &lt;a href=&#34;https://henruite.com&#34;&gt;menggunakan&lt;/a&gt; unsur halogen jenis gelombang inframerah pendek (SWIR) di belakang &lt;a href=&#34;https://goldisgood.com&#34;&gt;tingkap&lt;/a&gt; kuarsa untuk memastikan pemanasan yang cepat dan tepat. Kestabilan suhu pada permukaan wafer kekal pada tahap ±0.1°C, manakala ketepatan pemantauan suhu berlaku dalam masa milisaat sahaja. Ini memastikan bahawa profil suhu yang sama dapat dicapai untuk setiap kumpulan wafer, sama ada yang pertama atau yang ke-1000. Modul ini sesuai digunakan di bilik bersih kelas 1–100, dengan bahan-bahan yang kurang mengeluarkan gas dan laluan yang dikawal dengan baik. Tidak ada penghasilan zarah semasa proses pemanasan, kerana ia dipantau secara langsung pada antaramuka alat tersebut.&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
