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		<title>Sonda on Infrared Quartz Heat Solutions</title>
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				<title>Calentador de sonda para obleas de semiconductores</title>
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				<pubDate>Fri, 26 Jun 2026 05:39:50 +0800</pubDate>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://infra-quartz-heat.com/images/e359da41a435291bc4b653b358552252.png&#34; alt=&#34;Calentador de sonda para obleas de semiconductores&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;En la planta de fabricación, la tarjeta de prueba se encuentra bajo el microscopio, lista para procesar el siguiente lote de wafers. Si la temperatura del wafer varía aunque sea un poco, los parámetros de funcionamiento se ven afectados y la calidad del producto disminuye. Hemos creado este calentador para detener esa variación justo en el lugar donde la sonda entra en contacto con el wafer.&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;&lt;strong&gt;Lo que realmente importa durante las pruebas&lt;/strong&gt;&#xA;La unidad utiliza elementos infrarrojos de onda corta que suministran calor a través de un &lt;a href=&#34;https://goldisgood.com&#34;&gt;camino&lt;/a&gt; térmico de cuarzo. Esto permite una respuesta rápida y una baja inercia térmica. La uniformidad de temperatura en el nivel del wafer se mantiene dentro de un rango de ±0.1°C. La repetibilidad entre diferentes lotes también es alta, ya que el circuito de control se encuentra en la pieza a procesar, no en el propio calentador. Este diseño puede integrarse fácilmente en las estaciones y dispositivos de prueba estándar. Además, la zona caliente está aislada para evitar que el movimiento de las piezas genere partículas innecesarias. Gracias a los materiales sellados y al flujo de aire controlado, este dispositivo funciona en ambientes de clase 1–100.&lt;/p&gt;</description>
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